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產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號 | 產(chǎn)品描述 |
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紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。
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應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產(chǎn)過程中*的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項測量。
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注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
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內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
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雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
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雙折射測量儀PA-Micro操作簡單,測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機構(gòu)。高達2056x2464像素的偏振相機。