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如何使用雙折射儀測(cè)量樣品的雙折射值和方向?
更新時(shí)間:2023-05-22 點(diǎn)擊次數(shù):992次
雙折射儀是一種測(cè)量材料雙折射性質(zhì)及其參數(shù)的儀器,可用于測(cè)量光學(xué)單晶、晶體、液晶等材料的雙折射值和方向。在使用雙折射儀測(cè)量樣品的雙折射值和方向時(shí),需要進(jìn)行以下步驟:
1.樣品的制備
選取所需的樣品,對(duì)其進(jìn)行打磨或切割處理。樣品的制備需要注意,在樣品表面應(yīng)該沒有太深或者太淺的裂紋,氣泡以及其他污染物,以免影響雙折射的測(cè)量。
2.樣品的設(shè)置
將經(jīng)過(guò)打磨和切割處理的樣品放置于樣品臺(tái)上,并根據(jù)需要設(shè)置樣品的方向和位置。
3.調(diào)節(jié)參數(shù)
需要根據(jù)具體的樣品,調(diào)節(jié)其工作參數(shù),以便進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。需要調(diào)整像差補(bǔ)償,根據(jù)樣品大小調(diào)節(jié)數(shù)值光柵的位置,并累加光團(tuán)的圖像,以增強(qiáng)樣品的信號(hào)-噪聲比。
4.觀察樣品的雙折射現(xiàn)象
在雙折射測(cè)量過(guò)程中,需要觀察樣品的雙折射圖案和色澤變化,以確定樣品的雙折射現(xiàn)象。首先觀察樣品的測(cè)試位置,觀察到細(xì)小的雙折射圖片后,再調(diào)整像差補(bǔ)償、網(wǎng)規(guī)的水平,讓圖樣清晰。
5.測(cè)量雙折射值與方向
確定樣品的雙折射方向后,可以開始對(duì)其進(jìn)行雙折射值的測(cè)量。在雙折射儀中,需要通過(guò)改變垂直于樣品光線的旋轉(zhuǎn)角度來(lái)進(jìn)行測(cè)量。通常,通過(guò)旋轉(zhuǎn)樣品,可以記錄其在不同角度下的雙折射值,并計(jì)算雙折射值與角度的關(guān)系曲線。
通過(guò)以上步驟,即可在雙折射儀中測(cè)量樣品的雙折射值與方向。但是,在實(shí)際測(cè)量過(guò)程中,還需要注意以下幾點(diǎn):
首先,需要進(jìn)行足夠的預(yù)照明時(shí)間,以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
其次,在測(cè)量過(guò)程中要注意垂直樣品表面的光線照射,并且要記錄下每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的光照位置,以便準(zhǔn)確控制其位置和角度。
最重要的是,測(cè)量的結(jié)果要進(jìn)行多次測(cè)量并取平均值,以減小實(shí)驗(yàn)誤差。