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紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產(chǎn)過程中*的，WPA-200-MT正符合這樣的需求，并能高速完成各項測量。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布?？蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，Z適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)使其成為*的光學測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。