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online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升級STS 。 操作簡單，可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù)，以進行進一步詳細分析。 -
在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產(chǎn)線上，實現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量。 LIVE實時輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異常點發(fā)出警報。實時記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù)，以進行進一步詳細分析。可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。 -
online雙折射測量儀KAMAKIRI W 適用于薄膜等生產(chǎn)線上，實現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量 LIVE實時輸出雙折射的信息 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異常點發(fā)出警報 操作簡單，可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布 實時記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù)，以進行進一步詳細分析。 可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。 -
歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設(shè)備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有online雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領(lǐng)域。 -
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其*技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設(shè)計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。 -
ME-210-T膜厚測量儀為一種光學系膜厚測量裝置，這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù)，將不能變?yōu)榭赡?，以往的技術(shù)是無法測量0.5mm厚的玻璃基板，在這項技術(shù)下，可進行極薄膜的高精度測量，舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估，也可運用ME-210-T輕松達成。